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物位测量仪表是用于测量各种容器或工业设备中的物料高度或位置的仪表，根据其应用特点，物位测量仪表可以分为以下两大类：
1、接触式物位测量仪表：这种仪表通过直接与物料接触来测量物位，音叉物位开关、磁性物位开关、浮球液位计等，它们具有结构简单、安装方便的特点，但可能会对介质造成一定的干扰或污染，由于需要与被测介质直接接触，接触式仪表的选型、安装和使用都受到介质特性（如压力、温度、腐蚀性、密度等）的影响。
2、非接触式物位测量仪表：这种仪表通过非接触的方式测量物位，如雷达物位计、超声波物位计和激光测距仪等，它们不会受到介质特性的影响，可以实现较好的密封性，不易受到介质污染，非接触式仪表可能受到环境因素的影响较大，如雷达物位计在液体波动较大或蒸汽环境较差的情况下可能无法准确测量。
这两大类物位测量仪表各有特点，在实际应用中需要根据具体的工艺要求和环境条件选择合适的仪表，还有其他类型的物位测量仪表，如电容式物位计和核辐射式物位计等，它们的应用范围和特点也各不相同，选择合适的物位测量仪表需要综合考虑各种因素，包括介质特性、环境条件以及测量要求等。